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SHASHINA KAGAKU日本寫真化學 紅外線透過式薄片厚度監視器

更新時間：2023-12-08      瀏覽次數：480

特征

紅外板厚度監視器測量半透明板的厚度，如電池隔板、低反射涂層(如黑色保護層)和硅。它

可用于從實驗室水平到生產中在線100%檢測的所有應用。紅外吸收系統由一個帶有透射光

學系統的緊湊型鏡面探頭組成，可在100多個波長下同時測量多種參數，如薄膜厚度、密度

和成分。

THORLABS (1).png



    • 1

    • 測量半透明板、低反射膜、硅等的厚度。這對于光學干涉測量來說是很困難的


    • 2

    • 緊湊型探針

      通過采用小型30 mm反射式探頭，可以安裝在設備或生產線中的狹小空間內。此外，由于探頭僅通過光纖電纜連接到主體，因此它具有優異的耐環境性。


    • 3

    • 高速測量
      從950納米到1650納米的近紅外波長在100個點或更多點的同步采樣


    • 4

    • 厚度測量再現性小于等于0.1%(3σ)


    • 5

    • 測量算法

      算法校準樣品參數數量
      蘭伯特-啤酒定律1厚度
      最小二乘回歸方法2或更多多參數
      (厚度、密度、復合比率等)


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