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　　X射線無損測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測器，其探測器分辨率為139eV，處于先進水平；產品采用上照式設計，多重防輻射保護裝置以及X射線發(fā)生器，使輻射劑量符合國際規(guī)定；樣品觀察系統(tǒng)采用CCD攝像頭、數字多道分析器、激光定位以及自主研發(fā)的專用測厚分析軟件，各項指標均符合相關技術要求，技術達先進水平。

 

　　該款儀器專為電子半導體、五金電鍍、印刷線路板、首飾手表、檢測機構等行業(yè)量身打造的儀器。XYZ三個可調節(jié)方向、全面的樣品觀察系統(tǒng)和激光定位使得檢測更方便。超大的測試內部空間，良好的散熱效果和抗電磁干擾能力，模塊化的結構設計使安裝、調試、維護更方便，可適應惡劣工作環(huán)境。

 

　　應用行業(yè)：

　　1、電子半導體行業(yè)接插件和觸點的厚度測量；

　　2、印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測量；

　　3、貴金屬首飾手表行業(yè)鍍層厚度測量；

　　4、五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量。

 

　　性能優(yōu)勢：

　　1、精密的三維移動平臺；

　　2、輕松實現深槽樣品的檢測；

　　3、四種微孔聚焦準直器，自動切換；

　　4、雙重保護措施，實現無縫防撞；

　　5、采用大面積高分辨率探測器，降低檢出限，提高測試精度。