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XRF2000鍍層測(cè)厚儀規(guī)格
點(diǎn)擊次數(shù):2200 更新時(shí)間:2013-06-23

韓國(guó)XRF-2000L鍍層測(cè)厚儀規(guī)格及技術(shù)指標(biāo)

韓國(guó)MICRO PIONEER公司 XRF-2000L 型X-射線測(cè)厚儀

生產(chǎn)商 : MICRO PIONEER原產(chǎn)地 : 韓國(guó)

儀器功能 : 測(cè)量電鍍層厚度單鍍層 雙鍍層 合金鍍層 電鍍液分析 元素定性分析)

系統(tǒng)結(jié)構(gòu) :

主機(jī)箱,專用分析電腦,,彩色打印機(jī)

主機(jī)尺寸

610 x 670 x 490 mm

主機(jī)箱重量 : 75 公斤

配件重量 : 約 35 公斤

電腦標(biāo)移動(dòng)方式,驅(qū)動(dòng) XYZ 三軸移動(dòng),步進(jìn)馬達(dá)

XYZ 樣片臺(tái)移動(dòng)尺寸

200 x 150 x 30 mm

準(zhǔn)直器,(0.1,0.2,0.3,0.4 , 0.05 x 0.3mm)

軟件包括 視窗軟件,

系統(tǒng)軟件包括,測(cè)量,統(tǒng)計(jì), 

系統(tǒng)功能

可測(cè)單層,雙層或多層電鍍層厚度

XRF2000L鍍層測(cè)厚儀

全自動(dòng)臺(tái)面

自動(dòng)雷射對(duì)焦

多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品)

測(cè)量樣品高度不超過(guò)4cm(有10cm可供選擇)

鍍層厚度測(cè)試范圍:0.04-35um

可測(cè)試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度

測(cè)量時(shí)間:10-30秒

精度控制:

      *層:±5%以內(nèi)

      第二層:±8%以內(nèi)

      第三層:±12%以內(nèi)

系統(tǒng)功能

雷射對(duì)焦,全自動(dòng)XYZ樣片臺(tái),自動(dòng)調(diào)整檔案功能,電鍍藥液測(cè)量.元素配對(duì).

技術(shù)指標(biāo)

X-射線管 : W(鎢)靶 , 

高壓電源數(shù)值 : 50 KV

功率 : 50 W

X-射線管電流 : 1 mA

可測(cè)元素範(fàn)圍 : 由元子序號(hào) 22 至 83

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