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X光鍍層測(cè)厚儀使用條件是什么
點(diǎn)擊次數(shù):1232 更新時(shí)間:2016-03-02
   X光鍍層測(cè)厚儀是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

  X光鍍層測(cè)厚儀使用環(huán)境要求

  因?yàn)閮x器采用磁感應(yīng)測(cè)厚原理,因此嚴(yán)格避免強(qiáng)磁場(chǎng)干擾,避免沾染油污、重塵、潮濕等,不要重撞和摔壞儀器。

  X光鍍層測(cè)厚儀更換電池

  為防止電池漏液,X光鍍層測(cè)厚儀長期不使用時(shí)應(yīng)取出電池。當(dāng)儀器出現(xiàn)低電壓提示時(shí)應(yīng)更換電池,更換電池時(shí)請(qǐng)注意極性。請(qǐng)使用正規(guī)廠家生產(chǎn)的電池,可以避免因電池漏液而導(dǎo)致機(jī)器故障。

  用X光鍍層測(cè)厚儀時(shí),測(cè)量準(zhǔn)確需具備什么條件?具體如下:

  1.基體金屬特性

  對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

  對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

  2.基體金屬厚度

  檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

  3.表面清潔度。測(cè)量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

  4.邊緣效應(yīng)。不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

  5.曲率。不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

  6.讀數(shù)次數(shù)。通常由于X光鍍層測(cè)厚儀的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。

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