產(chǎn)品展示
韓國XRF-2020測厚儀標準片校正塊的詳細資料:
韓國XRF-2020測厚儀標準片校正塊
XRF-2000測厚儀標準片
通用型適合各種X光鍍層測厚儀
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片
專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。
也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品
根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
韓國MicroPXRF-2020鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板,LED支架等電鍍層厚度。
測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等,不限底材。
如單鍍層銅上鍍銀,銅上鍍鎳,銅上鍍鋅,銅上鍍錫,鐵上鍍鎳等
雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍銅鍍鎳,銅上鍍鎳鍍銀等,不限底材
多鍍層如:ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等,不限底材
合金鍍層如:鐵上鍍鋅鎳等。不限底材
韓國XRF-2020測厚儀標準片校正塊
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