產(chǎn)品展示
XRF-2000測厚儀X-RAY膜厚測量儀標準片的詳細資料:
XRF-2000測厚儀X-RAY膜厚測量儀標準片
應用于測厚儀校正及應用程序添加
XRF-2000測厚儀標準片:金,鎳,銅,鋅,鉻,錫,銀,鋅鎳合金等
各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀
標準片均附帶證書
標準片X射線鍍層測厚儀校正片(通用型)
適合各種X射線鍍層測厚儀
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
XRF-2000測厚儀標準片
如下圖所示
測厚儀標準片韓國XRF膜厚儀校正片
標準片所有X射線測厚儀通用
銅,鎳,鋅,鉻,金,錫,銀,鋅鎳合金:各種規(guī)格厚度標準片均有
XRF-2000測厚儀X-RAY膜厚測量儀標準片
提供金,鎳,銅,鋅,鉻,錫,銀,鋅鎳合金等標準片
各種規(guī)格及厚度范圍勻可訂制。
適應不同品牌鍍層測厚儀,標準片通用!
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